ct設(shè)備測試(什么是ITC測試)

大家好,今天小編來為大家解答以下的問題，關(guān)于ct設(shè)備測試，什么是ITC測試這個很多人還不知道，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！

本文目錄

1. ct8600 線材測試儀 使用說明書
2. 什么是ITC測試
3. ct設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了哪幾個主要階段

一、ct8600 線材測試儀 使用說明書

大多數(shù)測試人員，如所用的接線現(xiàn)場認(rèn)證測試儀器，在技術(shù)上非常復(fù)雜。為了確保準(zhǔn)確，高效，測試結(jié)果認(rèn)證檢測的權(quán)威機構(gòu)，我們必須仔細(xì)選擇合適的用戶需要測試儀。現(xiàn)場電纜測試儀有兩個主要功能：第一，測試或驗證電氣布線的傳輸性能;第二個故障排除布線系統(tǒng)。

，要求用戶使用他的能力，同時測試認(rèn)證和故障查找。主要功能測試是通過各種測試來確定鏈路的布線的布線是否標(biāo)準(zhǔn)，如果沒有，它示出了布線鏈路故障。故障排除和測試設(shè)備診斷功能是查找并分析其失敗的決定的能力。這些測試功能允許用戶糾正在最短的時間排除故障的接線錯誤。解決布線故障后，最好的辦法就是再次連接認(rèn)證測試，以確保線路達(dá)到指定的標(biāo)準(zhǔn)。

不能用于化驗檢測設(shè)備，實驗室級的精度只能靠近現(xiàn)場測試儀使用，所以可追溯性測試儀準(zhǔn)確度和精密度的問題是非常重要的。 TSB-67標(biāo)準(zhǔn)明確規(guī)定了這種精度現(xiàn)場測試儀的水平，無論是測試基本鏈路或通道，如綜合布線認(rèn)證測試設(shè)備必須滿足兩個精度。制造商聲稱精度指標(biāo)由獨立的認(rèn)證機構(gòu)承認(rèn)，用戶是無法測試的透徹了解儀器的技術(shù)問題，所以UL等第三方獨立認(rèn)證機構(gòu)進(jìn)行生產(chǎn)和測試設(shè)備的質(zhì)量保證指標(biāo)，是最有說服力的方式。在選擇測試儀器，用戶可以詢問獨立認(rèn)證的廠家的問題提問。

另外請注意，測試設(shè)備可跟蹤問題的精度。認(rèn)證作為一種高精密的測試儀器，按照標(biāo)準(zhǔn)的要求測量，精密測試設(shè)備必須可追溯。所謂可追溯性，是有一整套的流程和方法，儀器的精度可以追溯到國家（國際）標(biāo)準(zhǔn)。精密測試設(shè)備，測試設(shè)備是確定基本授權(quán)和精度是有限的時間，在一般情況下，試驗機的精度只能存放期為6個月至一年。所以，當(dāng)你選擇五類網(wǎng)線這樣的精密測試設(shè)備，供應(yīng)商希望獲得可追溯性的證據(jù)，并要求儀器的過程和方法和校準(zhǔn)溯源至國際標(biāo)準(zhǔn)，以確保您的測試設(shè)備采購公正性和權(quán)威性。

故障診斷領(lǐng)域的測試儀器應(yīng)該要提供一系列的故障定位布線系統(tǒng)已經(jīng)在一個單獨的電纜或錯誤被發(fā)現(xiàn)的能力。診斷或排除故障測試，應(yīng)攜帶的距離和測試設(shè)備。

天地行下一步的測試方法結(jié)合數(shù)字脈沖與數(shù)字信號處理技術(shù)。它完全可以以圖形方式顯示串?dāng)_的測試案例是鏈接。模擬頻率掃描技術(shù)來測量整體下一頁鏈接的價值，因此，測試只能報告給該鏈接的“合格”或“不合格”的結(jié)果給用戶。采用TDX技術(shù)，測試設(shè)備的一個非常重要的優(yōu)勢可能表明該鏈接位置更高的信號串?dāng)_的發(fā)生。

技術(shù)支持和服務(wù)

檢查測試設(shè)備制造商能夠提供全面，專業(yè)，快捷的技術(shù)支持和服務(wù)，而且還可以選擇測試儀的一個重要方面。它還包括是否這些本地化的支持和服務(wù)，維修和升級能夠真正本地化等。校準(zhǔn)測試儀是否將其返回到原來的工廠？對于這些問題，很少有主動測試設(shè)備制造商到用戶的指令，但用戶必須明確的問題來。

其他測試儀是用于現(xiàn)場測試，其設(shè)計應(yīng)根據(jù)施工現(xiàn)場環(huán)境的前提下，所以最好有一個現(xiàn)場測試儀良好的抗惡劣環(huán)境能力。電源管理能力也應(yīng)該關(guān)注，使用戶在測試儀突然沒電了幾個小時后不想要的，而且所有的測試結(jié)果都存儲都不見了。

理想測試儀

從技術(shù)角度來看，理想的電纜測試儀，應(yīng)首先滿足通道和基本鏈路的二次精度的性能要求;從更實際的角度來看，又是一個更快的測試速度。此外，測試人員可以為用戶提供幫助尋找接線故障診斷是非常重要的能力。由于測試的目的是為了獲得一個良好的鏈路，而不是區(qū)分好壞。測試設(shè)備必須能夠在鏈路故障壞件的位置，迅速通知用戶，這是一個非常有價值的功能。其他需要考慮的因素測試結(jié)果可以轉(zhuǎn)儲打印，使用簡單，支持其他類型的電纜測試。

廠商測試產(chǎn)品

SimpliFiber的是一個低成本的光源和功率計用于單模和多模光纖損耗的精確測量。 SimpliFiber的耐用和手掌大小的設(shè)計是簡單易用。它可以測量多種波長，測量結(jié)果可以被存儲，則可以自動設(shè)定的波長范圍內(nèi)。 Scanlink使用自由軟件打印專業(yè)的測試報告。套裝包括：850/1300 nm的光源，光功率計，手提箱，電腦連接線，AA電池，清潔布，Scanlink軟件，多語言手冊。

它的主要特點如下：

◆手掌大小，耐用的設(shè)計。

◆為850/1300 nm的LED光源測量一次在兩個波長，是一種多波長850/1300/1310/1550 nm的功率計。

◆有1310 nm的單模激光光源做測量。

◆有1550 nm的單模激光光源做測量。

◆自動識別波長。

◆電池壽命長。

◆有SC和ST連接器的選項。

◆存儲100個測試結(jié)果。

◆Scanlink方便地與數(shù)據(jù)傳輸?shù)膫€人電腦。

◆多語言用戶手冊。

◆Scanlink檢測報告編號，丟失，或電源。

DSP-FTA410S光纜測試適配器

DSP-FTA410S光纜測試適配器可以同時測試兩個線，大大減少了所需的光纜認(rèn)證測試的時候，你也可以同時在兩條電纜雙向測試，測試結(jié)果自動存儲在同一份報告。與功能FindFiber它可以從電纜兩端的任何一端，另一端檢測到信號，節(jié)省了大量的時間來找到正確的電纜連接。此外，它可以自動地使用兩種波長850nm和1300nm的多模光纖測試，無需調(diào)節(jié)測試波長。

DSP-FTA410S管理測試結(jié)果可以存儲測試適配器電纜和銅在同一個測試數(shù)據(jù)庫的DSP-4000，以便于網(wǎng)絡(luò)用戶整個布線系統(tǒng)的一個清晰的認(rèn)識。所有的測試結(jié)果可以直接打印，它可以被下載到PC，以便在未來的進(jìn)一步分析和統(tǒng)計。其主要特點如下：

◆同時測試兩個多模光纜，光纖光纜，以提高認(rèn)證測試。

◆兩個雙向光纖測試同步（測試結(jié)果自動存儲在相同的報告）。

◆測試電纜的光功率損耗，長度和傳輸延遲。

◆內(nèi)置在所有大國的標(biāo)準(zhǔn)（包括千兆以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)）。

◆850nm和1300nm的自動兩種波長的多模光纖測試。

◆查找信號的光纖職能另一端可以在電纜的兩端進(jìn)行檢測。

◆支持的DSP-4000的語音功能，可實現(xiàn)遠(yuǎn)程調(diào)用通過光纖電纜。

◆與福祿克LS-1310/1550激光光源單模光纜可測試的功率損耗。

◆堅固（包括嵌入式SC連接器）。

DSP-4000/4100數(shù)字式電纜分析儀

DSP-4000設(shè)計用于基于當(dāng)前的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證和更高的標(biāo)準(zhǔn)，在未來的高速銅纜布線和網(wǎng)絡(luò)用戶和光纜是專為認(rèn)證布線系統(tǒng)，故障診斷，高速網(wǎng)絡(luò)升級，移動等后檢查用戶電纜，布線鏈路的變化，重新認(rèn)證。

DSP-4000帶有一個可擴展的數(shù)字化平臺，確保它符合新的標(biāo)準(zhǔn)。而且，僅僅與DSP-FTA410S測試適配器電纜連接，您就可以開始光纜認(rèn)證測試。 DSP-4000支持新的標(biāo)準(zhǔn)要求所有的測試，如：NEXT，ELFEXT，綜合近端串?dāng)_，綜合等效遠(yuǎn)端串?dāng)_，衰減，衰減串?dāng)_比，延遲，偏移和回波損耗等，測試能力高達(dá)350MHz。

DSP-4000采用數(shù)字技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了模擬測試儀的性能：

◆標(biāo)準(zhǔn)為未來增加新的測試參數(shù)。

◆先進(jìn)的故障排除功能：HDTDX，HDTDR。

◆最多的測試能力，350MHz的最大帶寬。

◆提高光纜測試選項的性能。

◆快速的測試速度。

微掃描器PRO

微掃描器PRO的住房在結(jié)構(gòu)化布線設(shè)計，其布線測試功能來檢查布線結(jié)構(gòu)化布線，指出存在的問題與缺陷對，不只檢測短路，開路，反向，交錯的故障，而且還可以檢測出分叉對。它的功能來測量電纜的整個長度的長度，除了核實交貨和庫存，而且該電纜的短路或開路位置時，每對的顯示長度，當(dāng)連接到輪轂的另一端如果，也顯示集線器圖標(biāo)。它使用時域反射計（TDR）方法，以確保數(shù)據(jù)長度的可靠性，并且傳播速度可以校正固定電纜（NVP）。其辦公/位置定位的房間功能，就可以知道從配線架的電纜的另一端的具體位置。它的音頻傳輸功能，可在墻壁，地板，天花板和電線電纜找到隱藏。

其主要特點如下：

◆測試同軸電纜和雙絞線。

◆能區(qū)分10/100集線器。

◆可在半雙工或全雙工網(wǎng)絡(luò)之間的區(qū)別。

◆允許轂燈閃閃發(fā)光。

◆檢查配線位置。

◆識別短路，開路，反向，并在錯誤的腳踩在斷層線分叉。

◆無需外接其他配件就可以直接測試跳線。

◆測量電纜（雙絞線和同軸電纜）的長度，包括線，用于接收在輪轂的長度。

◆臺灣存托憑證采用專利技術(shù)做微量法精密長度測量。

◆產(chǎn)生的墻壁，地板，天花板和布線找到隱藏在電纜的內(nèi)部之間四個不同的音頻信號。當(dāng)

◆當(dāng)您移動，添加，用于配對電纜改變辦事處的電纜。

◆袖珍耐用。

二、什么是ITC測試

Q:什么是ICT測試技術(shù)？ICT測試技術(shù)是什么意思？\x0d\x0a\x0d\x0aICT是 In Circuit Tester的縮寫，中文名稱為在線測試儀，是一種電路板自動檢測儀器，又稱為靜態(tài)測試儀(因它只輸入很小的電壓或電流來測試，不會損壞電路板)。它能夠在短短幾秒內(nèi)測出電路板的好壞，并指出壞在哪一個區(qū)域及哪一個零件。將您公司產(chǎn)品在生產(chǎn)線造成的不良因素，如錫橋，錯件、反插等問題?一一的檢查出，大大提高效率和品質(zhì)。（您再也不需長時間埋頭苦干，用示波器、萬用表等慢慢查找故障所在?） \x0d\x0a\x0d\x0a在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點。 \x0d\x0a\x0d\x0a飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測試，優(yōu)點是不需制作夾具，程序開發(fā)時間短。 \x0d\x0a\x0d\x0a針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，但對每種單板需制作專用的針床夾具，夾具制作和程序開發(fā)周期長。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT的范圍及特點 \x0d\x0a檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測量，對二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測試，對中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動類、交換類等IC。 \x0d\x0a\x0d\x0a它通過直接對在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。 \x0d\x0a\x0d\x0a測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點上，故障定位準(zhǔn)確。對故障的維修不需較多專業(yè)知識。采用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT與人工測試比較之優(yōu)點 \x0d\x0a1、縮短測試時間：一般組裝電路板如約300個零件ICT的大約是3-4秒鐘。 \x0d\x0a\x0d\x0a2、測試結(jié)果的一致性：ICT的質(zhì)量設(shè)定功能，能夠透過電腦控制，嚴(yán)格控制質(zhì)量。 \x0d\x0a\x0d\x0a3、容易檢修出不良的產(chǎn)品：ICT有多種測試技術(shù)，高度的可靠性，檢測不良品種、且準(zhǔn)確。 \x0d\x0a\x0d\x0a4、測試員及技術(shù)員水平需求降低：只要普通操作員，即可操作與維修。 \x0d\x0a\x0d\x0a5、減省庫存、備頻、維修庫存壓力、大大提高生產(chǎn)成品率。 \x0d\x0a\x0d\x0a6、大大提升品質(zhì)。減少產(chǎn)品的不良率，提高企業(yè)形象。\x0d\x0a\x0d\x0aICT主要測試電路板的開短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等無件！\x0d\x0a\x0d\x0a早期，業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類別中，但因ATE測試相對復(fù)雜，而且還包含了上電后的功能測試，象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等，所以將ATE獨立為另一個類別了！\x0d\x0a\x0d\x0a基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測試，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！\x0d\x0a\x0d\x0a全球最大的ICT測試設(shè)備生產(chǎn)廠商是安捷倫，其它還有德律（TRI）、泰瑞達(dá)、星河等. \x0d\x0a\x0d\x0a在線測試通常是生產(chǎn)中第一道測試工序，能及時反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測試項目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測試手段之一。\x0d\x0a\x0d\x0aICT測試?yán)碚摰囊恍┖喗閈x0d\x0a1.1模擬器件測試 \x0d\x0a利用運算放大器進(jìn)行測試。由“A”點“虛地”的概念有： \x0d\x0a\x0d\x0a∵Ix= Iref \x0d\x0a\x0d\x0a∴Rx= Vs/ V0*Rref \x0d\x0a\x0d\x0aVs、Rref分別為激勵信號源、儀器計算電阻。測量出V0，則Rx可求出。 \x0d\x0a\x0d\x0a若待測Rx為電容、電感，則Vs交流信號源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2隔離（Guarding） \x0d\x0a上面的測試方法是針對獨立的器件，而實際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix_ref，測試時必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測試的基本技術(shù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix_ref，Rx= Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時，只要使G與F點同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點接地，因F點虛地，兩點電位相等，則可實現(xiàn)隔離。實際實用時，通過一個隔離運算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個隔離點，消除外圍電路對測試的影響。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 IC的測試 \x0d\x0a對數(shù)字IC，采用Vector（向量）測試。向量測試類似于真值表測量，激勵輸入向量，測量輸出向量，通過實際邏輯功能測試判斷器件的好壞。 \x0d\x0a\x0d\x0a如:與非門的測試 \x0d\x0a\x0d\x0a對模擬IC的測試，可根據(jù)IC實際功能激勵電壓、電流，測量對應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測試。 \x0d\x0a\x0d\x0a2非向量測試 \x0d\x0a隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫器件的向量測試程序常?；ㄙM大量的時間，如80386的測試程序需花費一位熟練編程人員近半年的時間。SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測試技術(shù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.1 DeltaScan模擬結(jié)測試技術(shù) \x0d\x0aDeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對被測器件的獨立引腳對進(jìn)行簡單的直流電流測試。當(dāng)某塊板的電源被切斷后，器件上任何兩個管腳的等效電路如下圖中所示。 \x0d\x0a\x0d\x0a1在管腳A加一對地的負(fù)電壓，電流Ia流過管腳A之正向偏壓二極管。測量流過管腳A的電流Ia。 \x0d\x0a\x0d\x0a2保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負(fù)電壓，電流Ib流過管腳B之正向偏壓二極管。由于從管腳A和管腳B至接地之共同基片電阻內(nèi)的電流分享，電流Ia會減少。 \x0d\x0a\x0d\x0a3再次測量流過管腳A的電流Ia。如果當(dāng)電壓被加到管腳B時Ia沒有變化（delta），則一定存在連接問題。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan軟件綜合從該器件上許多可能的管腳對得到的測試結(jié)果，從而得出精確的故障診斷。信號管腳、電源和接地管腳、基片都參與DeltaScan測試，這就意味著除管腳脫開之外，DeltaScan也可以檢測出器件缺失、插反、焊線脫開等制造故障。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad類式的測試稱Junction Xpress。其同樣利用IC內(nèi)的二極管特性，只是測試是通過測量二極管的頻譜特性（二次諧波）來實現(xiàn)的。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.2 FrameScan電容藕合測試 \x0d\x0aFrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個器件上面有一個電容性探頭，在某個管腳激勵信號，電容性探頭拾取信號。如圖所示： \x0d\x0a\x0d\x0a1夾具上的多路開關(guān)板選擇某個器件上的電容性探頭。 \x0d\x0a\x0d\x0a2測試儀內(nèi)的模擬測試板（ATB）依次向每個被測管腳發(fā)出交流信號。 \x0d\x0a\x0d\x0a3電容性探頭采集并緩沖被測管腳上的交流信號。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號。如果某個管腳與電路板的連接是正確的，就會測到信號；如果該管腳脫開，則不會有信號。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。 \x0d\x0a\x0d\x0a此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測試成本稍高。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 Boundary-Scan邊界掃描技術(shù) \x0d\x0aICT測試儀要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使制造費用增高；同時為開發(fā)一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標(biāo)準(zhǔn)。 \x0d\x0a\x0d\x0aIEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問端口（TAP）的四（五〕個管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式，主要有外測試（EXTEST）、內(nèi)測試（INTEST）、運行測試（RUNTEST）；最后提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。 \x0d\x0a\x0d\x0a具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務(wù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a將多個掃描器件的掃描鏈通過他們的TAP連在一起就形成一個連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號就可控制和檢測所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對器件每個管腳的物理接觸，虛擬訪問代替實際物理訪問，去掉大量的占用PCB板空間的測試焊盤，減少了PCB和夾具的制造費用。 \x0d\x0a\x0d\x0a作為一種測試策略，在對PCB板進(jìn)行可測性設(shè)計時，可利用專門軟件分析電路網(wǎng)點和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測試點，而又不減低測試覆蓋率，最經(jīng)濟的減少測試點和測試針。 \x0d\x0a\x0d\x0a邊界掃描技術(shù)解決了無法增加測試點的困難，更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產(chǎn)生測試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復(fù)雜測試庫的困難。 \x0d\x0a\x0d\x0a用TAP訪問口還可實現(xiàn)對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 Nand-Tree \x0d\x0aNand-Tree是Inter公司發(fā)明的一種可測性設(shè)計技術(shù)。在我司產(chǎn)品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設(shè)計。描述其設(shè)計結(jié)構(gòu)的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測試向量。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT測試要做到故障定位準(zhǔn)、測試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個電路網(wǎng)絡(luò)點都有測試點。電路設(shè)計要做到各個器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計要安裝可測性要求。\x0d\x0a\x0d\x0a基本的ICT近年來隨著克服先進(jìn)技術(shù)局限的技術(shù)而改善。例如，當(dāng)集成電路變得太大以至于不可能為相當(dāng)?shù)碾娐犯采w率提供探測目標(biāo)時，ASIC工程師開發(fā)了邊界掃描技術(shù)。邊界掃描(boundary scan)提供一個工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法來確認(rèn)在不允許探針的地方的元件連接。額外的電路設(shè)計到IC內(nèi)面，允許元件以簡單的方式與周圍的元件通信，以一個容易檢查的格式顯示測試結(jié)果。\x0d\x0a\x0d\x0a另一個非矢量技術(shù)(vectorlees technique)將交流(AC)信號通過針床施加到測試中的元件。一個傳感器板靠住測試中的元件表面壓住，與元件引腳框形成一個電容，將信號偶合到傳感器板。沒有偶合信號表示焊點開路。\x0d\x0a\x0d\x0a用于大型復(fù)雜板的測試程序人工生成很費時費力，但自動測試程序產(chǎn)生(ATPG, automated test program generation)軟件的出現(xiàn)解決了這一問題，該軟件基于PCBA的CAD數(shù)據(jù)和裝配于板上的元件規(guī)格庫，自動地設(shè)計所要求的夾具和測試程序。雖然這些技術(shù)有助于縮短簡單程序的生成時間，但高節(jié)點數(shù)測試程序的論證還是費時和和具有技術(shù)挑戰(zhàn)性

三、ct設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了哪幾個主要階段

根據(jù)掃描獲取數(shù)據(jù)的不同方式，CT技術(shù)已經(jīng)發(fā)展了五個階段，即五個階段幾代CT掃描。

在第一代CT中，使用單源單射線單探測器系統(tǒng)，系統(tǒng)對物體進(jìn)行平行逐步運動掃描獲得N個投影值，并且通過M個刻度旋轉(zhuǎn)對象。

這種掃描方法只需旋轉(zhuǎn)180°的物體。

第一代CT機結(jié)構(gòu)簡單，成本低，圖像清晰，但檢測效率低，很少用于工業(yè)CT。

第二代CT的產(chǎn)生是在第一代CT的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。

使用單光源小角度扇形光束多探頭。

射線風(fēng)扇的光束形狀很小，探測器的數(shù)量很少，因此扇形光束不能完全包含物體的故障，并且掃描運動除了物體之外還需要M指數(shù)旋轉(zhuǎn)。被檢測到，射線扇形射束與探測器陣列框架相對。

測試對象還需要執(zhí)行平移運動，直到它完全覆蓋測試對象，并獲得所需的成像數(shù)據(jù)。

第三代CT，它是單一的射線源，具有大扇形角，寬扇形光束和被檢查部分的全包掃描圖案。

有N個探測器對應(yīng)于寬扇形光束，這確保了在一次索引中獲得N個投影計數(shù)，并且該對象僅經(jīng)歷M個索引旋轉(zhuǎn)運動。

因此，第三代CT具有單一動作，良好的控制和高效率。從理論上講，樣品只需一次旋轉(zhuǎn)即可測試一個部分。

第四代CT也是一種大容量全容差，只有旋轉(zhuǎn)運動的掃描方法，但它有很多探測器形成一個固定環(huán)，只能由輻射源轉(zhuǎn)動實現(xiàn)掃描。

它的特點是掃描速度快，成本高。

卓茂科技檢測設(shè)備調(diào)試車間

第五代CT是一種用于實時檢測和生產(chǎn)控制系統(tǒng)的多源多檢測器。

源和檢測器分布在120°，工件和源不相對于彼此旋轉(zhuǎn)。這種CT技術(shù)既困難又昂貴，但與其他CT效率相比，它得到了顯著改善。

上述五種CT掃描方法是第二代和第三代ICT機器中最常用的方法。生成掃描，尤其是在第三代掃描模式下。

這是因為它只有一個動作并且易于控制。適用于檢測被檢物體直徑小的中小型產(chǎn)品，具有成本低，檢測效率高的優(yōu)點。

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